常規(guī)鹽霧試驗(yàn)測(cè)試報(bào)告申請(qǐng)需要多久
常規(guī)鹽霧試驗(yàn)測(cè)試報(bào)告申請(qǐng)需要多久?大家都知道鹽霧試驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)鹽霧試驗(yàn)條件,如溫度、濕度、氯化鈉溶液濃度和PH值等座的明確具體規(guī)定,另外還對(duì)鹽霧試驗(yàn)箱性能提出技術(shù)要求。同種產(chǎn)品采用哪種鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要根據(jù)鹽霧試驗(yàn)的特性和金屬的腐蝕速度及對(duì)鹽霧的敏感程度選擇。
鹽霧試驗(yàn)常用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T2423.17—1993;電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法,
GB/T2423.18—2000;電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液),
GB5938—86;輕工產(chǎn)品金屬鍍層和化學(xué)處理層的耐腐蝕試驗(yàn)方法,
GB/T1771—91;色漆和清漆 耐中性鹽霧性能的測(cè)定。
鹽霧試驗(yàn)應(yīng)用領(lǐng)域:
1、道路交通類:道路車輛電子電氣設(shè)備、軌道交通機(jī)車車輛設(shè)備與裝置、汽車零部件等;
2、計(jì)算機(jī)類:電腦、顯示屏、主機(jī)、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等;
3、電子通信類:手機(jī)、射頻器、電子通信元器件、PCB、PCBA等;
4、電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備、儀器儀表、醫(yī)療器械;
5、其他:電鍍、涂層、包裝箱、運(yùn)輸設(shè)備等。
鹽霧測(cè)試辦理具體流程:
1.根據(jù)試驗(yàn)條件配置鹽溶液并根據(jù)試樣放置要求放置被測(cè)試樣品,開(kāi)啟鹽霧箱的電源開(kāi)關(guān),箱體和壓力飽和桶進(jìn)入加熱階段;
2.待溫度符合測(cè)試條件所要求的溫度范圍后,開(kāi)啟噴霧壓力是否保持在1Kgf;
3.根據(jù)連續(xù)霧化時(shí)間要求設(shè)置定時(shí)器并打開(kāi)定時(shí)器的開(kāi)關(guān),待滿足設(shè)定的噴霧時(shí)間后,將自動(dòng)停止噴霧;
4.試驗(yàn)結(jié)束后,首先關(guān)閉噴霧開(kāi)關(guān),然后再開(kāi)啟除霧開(kāi)關(guān)進(jìn)行除霧約20分鐘;
5.箱體內(nèi)的鹽霧除干凈后,關(guān)閉設(shè)備所有開(kāi)關(guān),然后可以打開(kāi)箱門取出試樣;
6.在試驗(yàn)的過(guò)程中,如無(wú)特殊要求,禁止中途打開(kāi)箱門;
7.在噴霧狀態(tài)時(shí),嚴(yán)禁同時(shí)進(jìn)行除霧,因?yàn)闅饬髂嫦蚩赡軙?huì)損壞設(shè)備;
8.箱體內(nèi)的鹽霧氣體未清除干凈時(shí),禁止打開(kāi)箱門,以防止因鹽霧氣體外泄而對(duì)箱體周邊的其它設(shè)備造成腐蝕;
9.噴霧試驗(yàn)結(jié)束后,試件在箱體內(nèi)停留的時(shí)間不允許超過(guò)30分鐘,以免停留時(shí)間過(guò)長(zhǎng)而影響測(cè)試結(jié)果。
鹽霧試驗(yàn)周期
試驗(yàn)的時(shí)間,應(yīng)按被試覆蓋層或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的要求而定;若無(wú)標(biāo)準(zhǔn),可經(jīng)有關(guān)方面協(xié)商決定。推薦的試驗(yàn)時(shí)間為:2,6,16,24,48,96,240,480,720h。在規(guī)定的試驗(yàn)周期內(nèi),噴霧不得中斷。只有當(dāng)需短暫觀察試樣時(shí),才能打開(kāi)鹽霧箱。如果試驗(yàn)終點(diǎn)取決于開(kāi)始出現(xiàn)腐蝕的時(shí)間,試驗(yàn)需要經(jīng)常檢查。因此這些試樣不能同已有預(yù)定試驗(yàn)周期的試樣一起試驗(yàn)。對(duì)預(yù)定周期的試驗(yàn),可按上述周期進(jìn)行檢查。但在檢查過(guò)程中,不能破壞試面。開(kāi)箱檢查試樣的時(shí)間,應(yīng)盡可能短。
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